LANGER 迷你型場(chǎng)脈沖發(fā)生器P1 set系列

 　　迷你型脈沖群發(fā)生器的結(jié)構(gòu)小巧，可用于開(kāi)發(fā)過(guò)程中排除電子組件的電磁薄弱點(diǎn)。在發(fā)生器的頂尖能發(fā)出突發(fā)干擾場(chǎng)和靜電放電干擾場(chǎng)。實(shí)際應(yīng)用時(shí)，手持迷你型脈沖發(fā)生器，將發(fā)出干擾場(chǎng)的**直接在受測(cè)模塊（譬如印刷線路板）移動(dòng)。此時(shí)，薄弱點(diǎn)會(huì)對(duì)脈沖場(chǎng)作出反應(yīng)而觸發(fā)功能故障。利用這種方法，可以有針對(duì)性地探測(cè)電路板具體區(qū)域中的薄弱點(diǎn)（例如接地系統(tǒng)、單個(gè)布線或IC中的故障）。由于P系列發(fā)生器能分別產(chǎn)生磁場(chǎng)脈沖（P11和P12）和電場(chǎng)脈沖（P21）的分離，因而易于對(duì)薄弱點(diǎn)采取*佳的EMC處理措施。