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產品詳細說明
新型 IMS5400-TH 白光干涉儀開辟了工業厚度測量的新視角。該控制器提供智能評估功能，能夠以*高精度測量透明物體的厚度。
特征
即使在不同距離和振動目標的情況下，也能進行納米*精確厚度測量和多層厚度測量
遠距離穩定測量，即使是鍍有減反射涂層的目標
行業優化的傳感器，具有堅固的金屬外殼和柔性電纜
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